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退潤濕和不(bu)潤濕以及焊(han)點空洞對波(bo)峰焊造成的(de)影響及改善(shan)方案

上傳時(shí)間:2025-12-7 16:53:26  作者:昊瑞(ruì)電子

常見波峰(fēng)焊不良之退(tui)潤濕和不潤(rùn)濕

退潤濕(DE-wetting

熔(róng)錫從已潤濕(shi)的焊接表面(mian)收縮,形成不(bú)規則的形狀(zhuang)。

不(bú)潤濕(Non-wetting

是指(zhǐ)待焊接表面(mian)接觸熔錫時(shi),熔錫與焊接(jiē)表面之間不(bu)發生潤濕,沒(méi)有形成有效(xiao)連接的一種(zhǒng)現象。

無論是退潤(rùn)濕還是不潤(rùn)濕,從制程因(yin)素來看,首先(xian)要檢查溫度(du)。預熱溫度不(bú)足,助焊劑不(bu)能完全發揮(hui)作用清潔待(dài)焊接表面,産(chan)生拒焊;焊接(jie)溫度不足,造(zào)成焊接面溫(wēn)度無法滿足(zú)焊接條件,焊(han)料無法與焊(hàn)盤金屬發生(sheng)合金反應,形(xíng)成焊點。适當(dang)提高預熱和(he)焊接溫度,可(ke)以改善此項(xiang)不良

如果(guǒ)排查整個制(zhì)程參數都正(zhèng)常,就要從材(cai)料方面去考(kǎo)慮。通孔和原(yuán)件焊接腳過(guò)分氧化、污染(ran)等會造成焊(hàn)接表面可焊(han)性差,或者錫(xī)爐裏熔錫污(wū)染嚴重,劣化(hua)了焊料的焊(han)接性能。這種(zhǒng)情況下,建議(yi)對樣品進行(háng)微觀觀察以(yi)及成份分析(xī),如SEMEDX分析,以尋(xun)找污染源,采(cǎi)取對應措施(shī),如更換物料(liào),更換焊料等(deng)。

助焊劑的(de)活性也可能(neng)影響推潤濕(shī)和不潤濕。活(huó)性不足的助(zhu)焊劑無法完(wán)全清潔焊接(jiē)面、降低焊料(liào)表面張力,此(ci)事需要更換(huan)活性更強的(de)助焊劑。

 

焊接過程中(zhōng)産生的氣體(tǐ)直流在焊料(liao)内部不能完(wán)全排出就形(xíng)成空洞。空洞(dòng)中沒有焊錫(xi)材料,對焊點(diǎn)可靠性有負(fù)面影響。

 

 

出現(xian)此類不良,最(zuì)先采取的措(cuo)施是對PCB金星預先烘(hōng)烤。很多實例(li)表明,PCB手(shǒu)抄是此類問(wèn)題的主因之(zhī)一。受潮的PCB在高溫條(tiao)件下釋放氣(qì)體,使得PCB空洞形成的(de)風險加大。

波峰焊(hàn)接元件底面(mian)與PCB面沒(méi)有間隙(standoff,也可能(néng)形成空洞,因(yīn)爲氣體排出(chu)通道不暢使(shi)得部分氣體(ti)滞留在孔内(nei)。因此,選擇元(yuan)件時,要組好(hao)DFM分析,選(xuǎn)擇有間隙的(de)元件。

銅孔(kong)和元件焊接(jie)腳氧化、污染(rǎn)、有雜物等也(yě)會帶來空洞(dong)不良。當一切(qie)制程參數正(zhèng)常的情況下(xià),建議往材料(liao)方面分析,建(jiàn)議對來料進(jin)行SEMEDX分析,以尋(xún)找污染源,根(gēn)除不利因素(su)。


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